S29GL256P 概述
Spansion S29GL256P是采用90nm 工艺技术制造的Mirrorbit® 闪存产品。这些设备提供25ns 的快速页面读取时间,相应的随机读取时间可达90, 110 ns。它们配备写入缓冲器,在一个操作中最多可编程32 字/64 字节,与标准编程算法相比,有效编程时间更短。因此,对于当今需要更高密度、更好性能和更低功耗的嵌入式应用程序来说,这些设备是理想的选择。
S29GL256P 特性
- 单个3V 读取/ 编程/ 擦除(2.7-3.6 V)
- 增强的VersatileI/O™ 控制
- 所有输入电平(寻址、控制和DQ 输入电平)和输出均由VIO输入的电压决定。VIO的范围是1.65 到VCC
- 90 nm MirrorBit 工艺技术
- 8 字/16 字节页面读取缓冲器
- Page32 字/64 字节写入缓冲器可缩短多字更新的总体编程时间
- 安全硅扇区区域
- 128 字/256 字节扇区,通过8 字/16 字节随机电子序列号提供永久安全的标识
- 可在工厂或者由用户进行编程和锁定
- 统一的64 千字/128 千字节扇区架构
- S29GL256P:256 个扇区
- 通常情况下每个扇区可擦除100,000 次
- 通常情况下20 年数据保持能力
- 提供封装:
- 56 针TSOP
- 64 球加固BGA
- 编程和擦除操作的挂起和恢复命令
- 写入操作状态位指明编程和擦除操作是否完成
- 解锁省略编程命令可缩短编程时间
- 支持CFI (Common Flash Interface,通用闪存接口)
- 高级扇区保护的持久和密码方法
- WP#/ACC 输入
- 加快编程速度(当应用了VHH 时),在系统生产期间提高生产量
- 保护第一个或最后一个扇区,忽略扇区保护设置
- 硬件复位输入(RESET#) 复位设备
- 就绪/ 忙碌# 输出(RY/BY#) 检测编程或擦除循环是否完成